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Bitte beziehen Sie sich beim Zitieren dieses Dokumentes immer auf folgende
URN: urn:nbn:de:kobv:517-opus-41327
URL: http://opus.kobv.de/ubp/volltexte/2010/4132/


Palix, Nicolas ; Lawall, Julia L. ; Thomas, Gaël ; Muller, Gilles

How Often do Experts Make Mistakes?

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Dokument 1.pdf (532 KB) (SHA-1:7f3d5a44c4a7446b3f6ac67920820f854901ca69)


Kurzfassung auf Englisch

Large open-source software projects involve developers with a wide variety of backgrounds and expertise. Such software projects furthermore include many internal APIs that developers must understand and use properly. According to the intended purpose of these APIs, they are more or less frequently used, and used by developers with more or less expertise. In this paper, we study the impact of usage patterns and developer expertise on the rate of defects occurring in the use of internal APIs. For this preliminary study, we focus on memory management APIs in the Linux kernel, as the use of these has been shown to be highly error prone in previous work. We study defect rates and developer expertise, to consider e.g., whether widely used APIs are more defect prone because they are used by less experienced developers, or whether defects in widely used APIs are more likely to be fixed.

Freie Schlagwörter (englisch): History of pattern occurrences , bug tracking , Herodotos , Coccinelle
CCS - Klassifikation D.2.8 , D.3.3
Collection Universität Potsdam / Tagungen / Proceedings of the 9th Workshop on Aspects, Components, and Patterns for Infrastructure Software (ACP4IS \'10) / Session 1: Adepts of Code and the Wizards of OS
Institut: Hasso-Plattner-Institut für Softwaresystemtechnik GMBH
DDC-Sachgruppe: Informatik
Dokumentart: c InProceedings (Aufsatz / Paper einer Konferenz etc.)
Quelle: Proceedings of the 9th Workshop on Aspects, Components, and Patterns for Infrastructure Software (ACP4IS '10) / Bram Adams, Michael Haupt, Daniel Lohmann (Hrsg.). - Potsdam : Universitätsverlag Potsdam, 2010. - ISBN 978-3-86956-043-4. - S. 9 - 17
Sprache: Englisch
Erstellungsjahr: 2010
Publikationsdatum: 26.02.2010
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