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URL: http://opus.kobv.de/ubp/volltexte/2005/16/
Teppner, Randolf
Adsorptionsschichten an fluiden Grenzflächen : Skalengesetze und Ionenverteilungen
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Kurzfassung auf Deutsch
In dieser Arbeit wurden zwei Themenbereiche bearbeitet:1. Ellipsometrie an Adsorpionsschichten niedermolekularer Tenside an der Wasser/Luft-Grenzfläche (Ellipsometrie ist geeignet, adsorbierte Mengen von nicht- und zwitterionischen Tensiden zu messen, bei ionischen werden zusätzlich die Gegenionen mit erfaßt; Ellipsometrie mißt sich ändernde Gegenionenverteilung).
2. Ellipsometrische Untersuchung von endadsorbierten Polymerbürsten an der Wasser/Öl-Grenzfläche (Ellipsometrie ist nicht in der Lage, verschiedene Segmentkonzentrationsprofile innerhalb der Bürste aufzulösen, ist aber sehr wohl geeignet, Skalengesetze für Dicken und Drücke in Abhängigkeit von Ankerdichte und Kettenlänge der Polymere zu überprüfen; für in Heptan gequollene Poly-isobuten-Bürsten konnte gezeigt werden, daß sie sich entsprechend den theoretischen Vorhersagen für Bürsten in einem theta-Lösungsmittel verhalten)
Kurzfassung auf Englisch
In this publication two subjects are dealt with:1. Ellipsometry on adsorption layers of low molecular weight surfactants at the air/water-interface (Ellipsometry is suitable to measure adsorbed amounts of non-ionic surfactants, whereas this is impossible for ionic surfactants; in the latter case the ellipsometric signal is strongly influenced by the counter ion distribution; ellipsometry can measure changes in the counter ion distribution)
2. Ellipsometric investigation of polymer brushes anchored to the oil/water-interface (Ellipsometry is not able to distinguish between different segmental concentration profiles within the brush, but it is nevertheless suitable to check scaling laws for brush height and pressure in dependence on anchor density and degree of polymerization of the polymers; it could be shown, that brushes of poly-isobutylene swollen in heptane behave as predicted for brushes in a theta-solvent)
| SWD-Schlagwörter: | XXX | |
| Freie Schlagwörter (deutsch): | Ellipsometrie, Adsorptionsschichten, Ionenverteilungen, Polymerbürsten, Skalengesetze | |
| RVK - Regensburger Verbundklassifikation | UP 1080 | |
| Institut: | Institut für Physik und Astronomie | |
| Fakultät: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät | |
| DDC-Sachgruppe: | Physik | |
| Dokumentart: | a Dissertation | |
| Hauptberichter: | Helm, Christiane; Goedel, Werner A.; Möhwald, Helmut | |
| Sprache: | Deutsch | |
| Tag der mündlichen Prüfung: | 21.03.2001 | |
| Erstellungsjahr: | 2000 | |
| Publikationsdatum: | 07.02.2005 |
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